偏光顯微鏡是一種用于研究透明與不透明各向異性材料的光學(xué)顯微鏡效高化，它利用光的偏振特性對(duì)具有雙折射性的物質(zhì)進(jìn)行研究鑒定新體系。
 

　　偏光顯微鏡的基本原理是將自然光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢，以鑒別某一物質(zhì)是單折射(各向同性)還是雙折射性(各向異性)創造。當(dāng)光線通過雙折射體時(shí)不難發現，會(huì)形成兩種偏振光，其振動(dòng)方向依物體的種類而有所不同設備製造。偏光顯微鏡利用這一特性發展需要，通過加上兩塊起偏作用的偏光鏡(即下偏光鏡和上偏光鏡)，將自然光轉(zhuǎn)化為偏振光管理，并觀察樣品在偏振光下的表現(xiàn)顯示，從而判斷其是否具有雙折射性。
 

　　偏光顯微鏡具有多種功能，包括但不限于：
 

　　單偏光觀察：僅使用起偏器或檢偏器中的一個(gè)創新能力，觀察樣品在偏振光下的基本形態(tài)和顏色新品技。
 

　　正交偏光觀察：將起偏器和檢偏器的透光軸置于正交位置，觀察樣品在正交偏光下的表現(xiàn)求得平衡，如消光現(xiàn)象紮實做、干涉色等。
 

　　錐光觀察：使用特殊的光學(xué)元件(如錐光鏡)將光線聚焦成錐形光束至關重要，觀察樣品在錐光下的干涉圖樣提供深度撮合服務，用于判斷樣品的晶體類型和取向。